一、用途:豪恩系列高低溫低氣壓試驗箱主要用于航天、電子、國防、科研和其它工業(yè)部門確定電工的電子科技產(chǎn)品(包括元器件、材料和儀器儀表)。在高低溫低氣壓單項或同時作用下,進行貯存運輸可靠性試驗,并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。
二、標準依據(jù):
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件;
GB15091-89 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件;
GB11159-89 低氣壓試驗箱技術(shù)條件;
GB/T2423.25-1992 低溫/低氣壓綜合試驗箱;
GB/T2423.26-1992 高溫/低氣壓綜合試驗箱;
GJB150.2-86 低溫/低氣壓(高度)試驗。
GB 2423.27-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAMD:低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法》
GBT 2423.25-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAM:低溫低氣壓綜合試驗》
GBT 2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM:高溫低氣壓綜合試驗》
三、主要技術(shù)參數(shù):
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