一、簡介

豪恩系列溫度沖擊測試箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)bi備的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

二、用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

三、滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

四、性能技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號：HE-LR-50/80/100/150/252/480

容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升

內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）

外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）

試驗(yàn)溫度范圍：S表示：-40℃～+150℃

              W表示：-55℃～+150℃

              L表示：-65℃～+150℃

低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN

溫度波動度：±2.0℃

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：10S

溫度穩(wěn)定時(shí)間：5MIN，常溫～zuì低溫度5MIN，常溫～zuì高溫度5MIN

內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304鏡面不銹鋼

外箱材質(zhì)：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理

冷凍系統(tǒng)：冷凍機(jī)組為復(fù)疊式，進(jìn)口壓縮機(jī)

冷卻方式：水冷或風(fēng)冷（可選擇）

控制器系統(tǒng)：韓國TEMP彩色觸摸式控制器或日本OYO彩色觸摸式控制器

標(biāo)配：測試1個(gè)，樣品架2個(gè)

使用電源：AC 三相 五線 380V 50HZ

保護(hù)裝置：無熔絲開關(guān)，壓縮機(jī)過載保護(hù)，超溫保護(hù)，風(fēng)機(jī)過載保護(hù)，保險(xiǎn)絲

聯(lián)機(jī)軟件：R232、485或USB接口

五、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

　　1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；

　　2、GB/T2423.2-2001；

　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；

　　4. GJB150.3-86；

　　5. GJB150.4-86；

　　6. GJB150.5-86；

　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；

　　8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

　　9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；

　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；

　　11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；

　　12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；

　　10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；

　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變化；

　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；

　　13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。