小型蒸煮老化測(cè)試箱

【詳細(xì)介紹】

豪恩系列小型蒸煮老化測(cè)試箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)；半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自動(dòng)安全保護(hù)裝置。

【技術(shù)規(guī)格參數(shù)】

1. 規(guī)格型號(hào)：HE-ZQ-5417
2. 內(nèi)部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm；
3. 外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm；
4. 內(nèi)外箱體材質(zhì)：SUS304#優(yōu)質(zhì)不銹鋼板；
5. 保溫層：PV發(fā)泡膠
6. 升溫時(shí)間:大約40分鐘；控制功能:PID+SSR,數(shù)字式顯示；
7. 蒸氣溫度:  97℃；
8. 計(jì)時(shí)功能：1～9999H/M/S，附時(shí)到報(bào)警功能，時(shí)間到達(dá)后切斷電源；
9. 水位控制：低水位報(bào)警功能；
10. 電源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW